La difracció de raigs X (XRD) és una tècnica potent i no destructiva per caracteritzar materials cristal·lins en una gran varietat de materials sòlids (orgànics, inorgànics i organometàl·lics). Mentre que la majoria de les altres tècniques analítiques proporcionen informació elemental o molecular d'una mostra, la XRD és única en la seva capacitat d'oferir una àmplia gamma d'informació sobre estructures, fases cristal·lines, paràmetres de xarxa, orientacions cristal·lines preferides i altres paràmetres estructurals com ara la mida de partícula, la deformació, la tensió i els defectes cristal·lins.

El Servei de Difracció de Raigs X de l'ICN2 està dedicat a donar suport a les activitats de recerca dels grups de l'ICN2, de la comunitat investigadora de l'entorn i d'empreses privades. El servei disposa de l'equipament i el coneixement adequats per treballar amb nanopols i materials de capes primes. Les mostres provenen habitualment dels àmbits de la química, la física i la ciència dels materials.

El Servei de XRD està equipat amb dos difractòmetres Malvern PANalytical versàtils i avançats: un difractòmetre multipropòsit (MPD) per a materials en pols i un difractòmetre de recerca de materials (MRD) per a capes primes.

Els instruments permeten realitzar anàlisis rutinàries de pols i identificació de fases, fins a mesures més sofisticades, com ara la difracció a angle rasant, la reflectometria de raigs X, estudis de dispersió difusa en nanopols (SAXS), anàlisi d'alta resolució i mapeig de l'espai recíproc en pel·lícules epitaxials, difracció en el pla, així com difracció en condicions no ambientals (alta temperatura i atmosfera controlada).