La difracción de rayos X (XRD) es una potente técnica no destructiva para la caracterización de materiales cristalinos en una amplia variedad de sólidos (orgánicos, inorgánicos y metaloorgánicos). Mientras que la mayoría de las demás técnicas analíticas proporcionan información elemental o molecular de una muestra, la XRD es única en cuanto a la amplitud de información que ofrece sobre estructuras, fases cristalinas, parámetros de red, orientaciones cristalinas preferentes y otros parámetros estructurales como el tamaño de partícula, la deformación, la tensión y los defectos cristalinos.

El Servicio de XRD de ICN2 está dedicado a apoyar las actividades de investigación de los grupos de ICN2, la comunidad investigadora del entorno y empresas privadas. El servicio cuenta con el equipamiento y el conocimiento adecuados para trabajar con nanopolvos y materiales en forma de láminas delgadas. Las muestras proceden habitualmente de los ámbitos de la Química, la Física y la Ciencia de Materiales.

El Servicio de XRD está equipado con dos difractómetros Malvern PANalytical versátiles y avanzados: un difractómetro multipropósito (MPD) para materiales en polvo y un difractómetro para investigación de materiales (MRD) para láminas delgadas.

Los instrumentos permiten realizar desde análisis rutinarios de polvo e identificación de fases hasta medidas más sofisticadas, entre las que se incluyen la difracción a ángulo rasante, la reflectometría de rayos X, los estudios de dispersión difusa en nanopolvos (SAXS), el análisis de alta resolución y el mapeo del espacio recíproco en películas epitaxiales, la difracción en plano, así como la difracción en condiciones no ambientales (alta temperatura y atmósfera controlada).